PCT飽和加速壽命試驗箱--產品用途

用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定

PCT飽和加速壽命試驗箱--結構特點
設備特點：


1、最新優化設計，美觀大方，做工精細。
2、對應IEC60068-2-66條件，具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器。
3、采用7寸真彩式觸摸屏，擁有200組12500段程序，具有USB曲線數據下載功能，RS-485通訊接口。
4、采用高效壓力倉，使箱內達到最佳純凈飽和蒸汽狀態。
5、具有緩解壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。
6、多項安全保護措施，故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示。
7、PCT高壓加速老化試驗機可根據客戶產品定制專用產品架。
規范要求：


1、PCT高壓加速老化試驗機內膽采用圓弧設計，符合國家安全容器標準，可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
2、配備雙層不銹鋼產品架，也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定制專用產品架。
3、標準配備8條試驗樣品信號施加端子，也可以根據需要增加端子數量，最多可提供55條偏壓端子。
4、具備特制的試樣架免去繁雜的接線作業。
PCT飽和加速壽命試驗箱--符合標準


JESD 22-A102-B加速抗潮性.非偏離的高壓滅菌器
EIAJED4701
EIA/JESD22

GB-T2423.34-2012試驗ZAD：溫度濕度組合循環試驗

PCT飽和加速壽命試驗箱--規格與技術參數